雙目體視顯微鏡
- 產品型號：XTZ-D
- 產品特點：體視顯微鏡主要用于電子線定、巖礦樣本分路、芯片封裝、珠寶鑒析、微小精密零件品質量控制與裝配、公安銀行痕跡對比、教學示范、農業選種、紡織品檢驗、養殖業品種優先、醫療部門病理分析。還可用于產品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊和不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。
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1、工作條件
1.1 適用于在電源220V（±10%）/50Hz、氣溫攝氏5℃～30℃和相對濕度85%的環境條件下運行。
1.2 建議安放在防震工作臺上，環境清潔。
2、主要技術指標
2.1. 鏡體
透反射鏡體，且各種調節及控制部件使用方便，功能擴展性強。
2.2 調焦機構
低位同軸式粗調裝置，并且松緊張力可調。
2.3 光學校正系統
有限遠光學系統，,能獨立克服軸向和縱向像差，成像清晰，分辨率高。
2.4 觀察方式
具備試樣在透反射情況下的明場觀察方式
2.5 觀察目鏡
具備寬視場雙目觀察筒一個及寬視野10X鏡兩個，屈光度可根據使用者要求自行調節。
2.6 光源
上下光源LED照明。
2.8 物鏡
連續變倍調節裝置。
在10X倍目鏡情況下可實現:6.5-45倍率觀察，物鏡合軸、齊焦性能優異，預制防霉技術，經久耐用，效果優異.
